prBAS ISO/TS 22933:2025

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS

Opšte informacije

Status:Projekt

Broj stranica:19

Metoda usvajanja:Korice

Jezik:engleski

Izdanje:1.

Datum realizacije:07.11.2024

Predviđeni datum naredne faze:19.11.2024

Tehnički komitet:BAS/TC 49, Hemijski inžinjering, laboratorijska oprema i kozmetika

ICS:

71.040.40, Hemijska analiza

Apstrakt

This document specifies a method for measuring the mass resolution in SIMS, and how to compare the mass resolution between different instruments (e.g. TOF-SIMS, Magnetic SIMS, Quadrupole SIMS, Fourier Transform SIMS, etc.) by considering the peak shapes.

Životni ciklus

...

Izvorni dokument i stepen usklađenosti

ISO/TS 22933:2022, identičan

Radni materijal

Samo članovi tehničkog komiteta imaju pristup radnom materijalu. Ukoliko ste član, molimo prijavite se sa vašim nalogom i dobićete pristup dokumentima. Prijavite se