prBAS EN IEC 63287-2:2026

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Опште информације

Статус:Пројекат

Број страница:34

Метода усвајања:Proglašavanje

Језик:engleski,francuski

Издање:1.

Датум реализације:04.11.2025

Предвиђени датум наредне фазе:19.11.2025

Технички комитет:BAS/TC 64, ВС2 - Електротехничка стандардизација

ICS:

31.080.01, Пoлупрoвoднички урeђajи oпћeнитo

Абстракт

This part of IEC 63287 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Животни циклус

...

Изворни документ и степен усаглашености

EN IEC 63287-2:2023, идентичан

IEC 63287-2:2023, идентичан

Радни материјал

Сaмo члaнoви тeхничкoг кoмитeтa имajу приступ рaднoм мaтeриjaлу. Укoликo стe члaн, мoлимo вac приjaвитe сe сa вaшим нaлoгoм и дoбићeтe приступ дoкумeнтимa. Пријавите се