prBAS EN IEC 63287-2:2026

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile

Opšte informacije

Status:Projekt

Broj stranica:34

Metoda usvajanja:Proglašavanje

Jezik:engleski,francuski

Izdanje:1.

Datum realizacije:04.11.2025

Predviđeni datum naredne faze:19.11.2025

Tehnički komitet:BAS/TC 64, VS2 - Elektrotehnička standardizacija

ICS:

31.080.01, Poluprovodnički uređaji općenito

Apstrakt

This part of IEC 63287 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the concept of mission profile, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications.

Životni ciklus

...

Izvorni dokument i stepen usklađenosti

EN IEC 63287-2:2023, identičan

IEC 63287-2:2023, identičan

Radni materijal

Samo članovi tehničkog komiteta imaju pristup radnom materijalu. Ukoliko ste član, molimo prijavite se sa vašim nalogom i dobićete pristup dokumentima. Prijavite se