prBAS EN IEC 60749-37:2026
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Опште информације
Статус:Пројекат
Број страница:45
Метода усвајања:Proglašavanje
Језик:engleski,francuski
Издање:2.
Датум реализације:19.11.2025
Предвиђени датум наредне фазе:15.01.2026
Технички комитет:BAS/TC 64, ВС2 - Електротехничка стандардизација
ICS:
31.080.01, Пoлупрoвoднички урeђajи oпћeнитo
Абстракт
IEC 60749-37:2022 provides a test method that is intended to evaluate and compare drop performance of surface mount electronic components for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes product failure. The purpose is to standardize the test board and test methodology to provide a reproducible assessment of the drop test performance of surface-mounted components while producing the same failure modes normally observed during product level test. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
- correction of a previous technical error concerning test conditions;
- updates to reflect improvements in technology.
Животни циклус
...
Изворни документ и степен усаглашености
EN IEC 60749-37:2022, идентичан
IEC 60749-37:2022, идентичан
Веза са BAS стандардима
Радни материјал
Сaмo члaнoви тeхничкoг кoмитeтa имajу приступ рaднoм мaтeриjaлу. Укoликo стe члaн, мoлимo вac приjaвитe сe сa вaшим нaлoгoм и дoбићeтe приступ дoкумeнтимa. Пријавите се