nsBAS EN IEC 60749-28:2026

Standard uspostavlja proceduru za ispitivanje, ocjenjivanje, i klasifikaciju komponenti i mikro kola prema njihovoj osjetljivosti na oštećenja ili degradacije usljed izloženosti elektrostatičkom pražnjenju (ESD) modela sa elektrostatički napunjenom komponentom (CDM). Sve upakovane poluprovodničke komponente, tankoslojna kola, komponente sa površinskim akustičnim talasima (SAW), opto-elektronske komponente, hibridna integrisana kola (HICs), i moduli sa više čipova (MCMs) koji sadrže bilo koju od ovih komponenti treba ocijeniti prema ovom dokumentu. Da bi se izvršila ispitivanja, komponente se sklapaju u kućište slično onom koje se očekuje u završnoj upotrebi. Ovaj CDM dokument se ne primjenjuje na uređaje za ispitivanje modela pražnjenja sa utičnicom. Ovaj dokument opisuje metodu sa indukovanim poljem (FI). Alternativna metoda, npr. metoda sa direktnim kontaktom (DC) opisana je u prilogu J. Svrha ovog dokumenta je da uspostavi metodu ispitivanja koja će da ponovi CDM otkaze i da obezbjedi pouzdane i ponovljive CDM ESD rezultate ispitivanja od komponenti do komponenti za ispitivanje, bez obzira na tip komponente. Ponovljivi podaci će omogućiti precizne klasifikacije i upoređivanje nivoa osjetljivosti CDM ESD. Ovo izdanje uključuje sljedeće značajne tehničke izmjene u odnosu na prethodno izdanje: - nova podtačka i prilog koji se odnosi na probleme vezane za CDM ispitivanje integrisanih kola i diskretnih poluprovodnika u veoma malim paketima; - izmjene radi pojašnjenja čišćenja uređaja i testera.