BAS ISO 4970:1999
Čelik - Određivanje ukupne ili efektivne debljine tankih površinski otvrdnutih slojeva
Опште информације
Статус: Повучен
Број страна: 4
Језик: Енглески
Издање: 1.
Метода усвајања: Proglašavanje
Датум објаве: 23.12.1999
Технички комитет:
...
Апстракт
Ispitivanje metala bez razaranja
Животни циклус
...
Изворни документ и степен усаглашености
- ISO 4970:1979, идентичан
Веза са BAS стандардима
Напомена
BAS ISO 4970:1999 zamjenjuje JUS C.A2.054:1987, Ispitivanja metala - Određivanje ukupne ili efektivne debljine tankih, površinski otvrdnutih slojeva čelika