| Област стандардиззације | Електротехника
|
|---|
| Teхнички комитет | BAS/TC 30- Електрични каблови |
|---|
| Термин (ЕН) | slab interferometry, axial slab interferometry, axial interference microscopy |
|---|
| Дефиниција (ЕН) | The method whereby the refractive index profile of an optical fibre is measured by using an interferometer which scans across the end face, perpendicular to the optic axis, of a thin slab of the optical fibre. |
|---|
| Термин (ФР) | |
|---|
| Дефиниција (ФР) | |
|---|
| Термин (ДЕ) | |
|---|
| Дефиниција (ДЕ) | |
|---|
| Термин (БС) | |
|---|
| Дефиниција (БС) | |
|---|
| Термин (ХР) | |
|---|
| Дефиниција (ХР) | |
|---|
| Термин (СР) | interferometrija ploče, interferometrija aksijalne ploče, mokroskopija aksijalne interferencije |
|---|
| Дефиниција (СР) | Metoda kojim se profil indeksa prelamanja optičkog vlakna mjeri pomoću interferometra koji vrši skeniranje preko kraja vlakna, okomitog na optičku osu, tanke ploče optičkih vlakana. |
|---|
| Датум | 2017-08-10 |
|---|
| Стандарди | BAS IEC 60050-731:2017 |
|---|
