| Oblast standardizacije | Elektrotehnika |
|---|
| Tehnički komitet | BAS/TC 30- Električni kablovi |
|---|
| Termin (EN) | slab interferometry, axial slab interferometry, axial interference microscopy |
|---|
| Definicija (EN) | The method whereby the refractive index profile of an optical fibre is measured by using an interferometer which scans across the end face, perpendicular to the optic axis, of a thin slab of the optical fibre. |
|---|
| Termin (FR) | |
|---|
| Definicija (FR) | |
|---|
| Termin (DE) | |
|---|
| Definicija (DE) | |
|---|
| Termin (BS) | |
|---|
| Definicija (BS) | |
|---|
| Termin (HR) | |
|---|
| Definicija (HR) | |
|---|
| Termin (SR) | interferometrija ploče, interferometrija aksijalne ploče, mokroskopija aksijalne interferencije |
|---|
| Definicija (SR) | Metoda kojim se profil indeksa prelamanja optičkog vlakna mjeri pomoću interferometra koji vrši skeniranje preko kraja vlakna, okomitog na optičku osu, tanke ploče optičkih vlakana. |
|---|
| Datum | 2017-08-10 |
|---|
| Standardi | BAS IEC 60050-731:2017 |
|---|
