BAS ISO 17109:2016

Površinska hemijska analiza - Dubinsko profiliranje - Metoda određivanja brzine raspršivanja u fotoelektronskoj spektroskopiji X-zracima, Auger elektronskoj spektroskopiji i masenoj spektroskopiji sekundarnih iona profiliranje dubine raspršivanja pojedinačnih i višeslojnih tankih filmova