Nacrti standarda na javnoj raspravi
Institut za standardizaciju Bosnе i Hercegovinе, na prijedlog tehničkih komiteta, objavljuje javnu raspravu o nacrtima bosanskohercegovačkih standarda (faza izrade 40.20) koja ima za cilj da omogući svima zainteresiranim stranama da dostave primjedbe i prijedloge na nacrte bosanskohercegovačkih standarda.
Rok za dostavljanje primjedbi na nacrte bosanskohercegovačkih standarda je 60 dana od dana objavljivanja javne rasprave na web-sajtu ISBIH-a (ako je potrebno, može biti skraćen na najmanje 30 dana).
Nacrti bosanskohercegovačkih standarda su svim zainteresovanim na raspolaganju putem online modula za čitanje nacrta BAS standarda, a osnovni podaci o nacrtu (naslov, područje primjene, tehnički komitet koji je taj nacrt pripremio za javnu raspravu i sl.) dostupni su na web-sajtu ISBIH-a.
Zahtjev za pristup nacrtu BAS standarda na javnoj raspravi trebate dostaviti na e-mail: stand@isbih.gov.ba. Da biste mogli pristupiti online modulu za čitanje nacrta BAS standarda, morate biti registrovani na naš web sajt.
Primjedbe na nacrte bosanskohercegovačkih standarda (uz oznaku tehničkog komiteta i referentnu oznaku nacrta BAS standarda) dostaviti email-om tehničkom sekretaru odgovarajućeg tehničkog komiteta korištenjem Obrasca za komentare.
Za pravilno popunjavanje ovag obrasca pogledajte Vodič za upotrebu obrasca za komentare.
| Oznaka standarda | Faza izrade | BAS/TC | Datum realizacije | Predviđeni datum naredne faze |
|---|---|---|---|---|
| nsBAS ISO 17862:2025 Površinske hemijske analize – Masena spektrometrija sekundarnih jona - Linearnost intenziteta skale od pojediničnog brojanja jona i vremena prolaska analita | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 17973:2025 Površinska hemijska analiza –Augerovi elektronski spektrometri srednje rezolucije – Kalibracija energetske skale za elementarnu analizu | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 18115-1:2025 Površinske hemijske analize – Rječnik – Dio 1: Opći pojmovi i pojmovi korišteni u spektroskopiji | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 18115-2:2025 Površinske hemijske analize – Rječnik – Dio 2: Termini korišteni u mikroskopiji skenirajućom sondom | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 18115-3:2025 Površinske hemijske analize – Rječnik – Dio 3: Termini korišteni u optičkoj interfejs analizi | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 18118:2025 Površinska hemijska analiza - Auger elektronska spektroskopija i fotoelektronska spektroskopija X zracima - Smjernice za upotrebu eksperimentalno određenih faktora relativne osjetljivosti za kvantitativnu analizu homogenosti materijala | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 20579-1:2025 Površinska hemijska analiza – Rukovanje uzorcima, priprema i formiranje – Dio 1: Dokumentovanje i izvještavanje o rukovanju uzorcima prije analize | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 22638:2025 Guma – Nastanak i nakupljanje čestica usljed trošenja guma i puteva (TRWP) - Laboratorijska metoda simuliranog puta | 40.20 | BAS/TC 50 | 25.02.2025 | 24.04.2025 |
| nsBAS ISO 23124:2025 Površinska hemijska analiza – Mjerenje lateralne i aksijalne rezolucije Ramanovim mikroskopom | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 23170:2025 Površinska hemijska analiza - Dubinsko profiliranje - Nedestruktivno dubinsko profiliranje tankih filmova oksida teških metala u nanorazmjeru na Si supstratima s raspršenjem iona srednje energije | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 23729:2025 Površinska hemijska analiza - Mikroskopija atomskih sila – Smjernice za proceduru obnove snimaka dobijenih pomoću mikroskopije atomskih sila, proširene određenom veličinom sonde | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 24417:2025 Površinska hemijska analiza – Analiza metalnih nanoslojeva na podlogama na bazi željeza optičkom emisionom spektrometrijom sa tinjajućim pražnjenjem | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |
| nsBAS ISO 33401:2025 Referentni materijali – Sadržaj certifikata, oznaka i pratećih dokumenata | 40.20 | BAS/TC 66 | 27.03.2025 | 25.05.2025 |
| nsBAS ISO 33403:2025 Referentni materijali — Zahtjevi i preporuke za upotrebu | 40.20 | BAS/TC 66 | 27.03.2025 | 25.05.2025 |
| nsBAS ISO 33405:2025 Referentni materijali — Pristupi za karakterizaciju i procjenu homogenosti i stabilnosti | 40.20 | BAS/TC 66 | 27.03.2025 | 25.05.2025 |
| nsBAS ISO 33406:2025 Tehnike proizvodnje referentnih materijala sa kvalitativnim svojstvima | 40.20 | BAS/TC 66 | 27.03.2025 | 25.05.2025 |
| nsBAS ISO 33407:2025 Smjernice za proizvodnju certificiranih referentnih materijala čistih organskih tvari | 40.20 | BAS/TC 66 | 27.03.2025 | 25.05.2025 |
| nsBAS ISO 50003:2025 Sistemi upravljanja energijom – Zahtjevi za auditorna i sertifikaciona tijela sistema upravljanja energijom | 40.20 | BAS/TC 10 | 25.03.2025 | 18.05.2025 |
| nsBAS ISO 50006:2025 Sistemi upravljanja energijom – Evaluacija energetskih preformansi koristeći indikatore energetski preformansi i energetske referentne vrijednosti | 40.20 | BAS/TC 10 | 25.03.2025 | 18.05.2025 |
| nsBAS ISO 5861:2025 Površinska hemijska analiza – Fotoelektronska spektroskopija X zracima – Metoda kalibracije intenziteta za kvarcno-kristalne monohromatske Al Kα XPS instrumente | 40.20 | BAS/TC 49 | 20.03.2025 | 19.05.2025 |