prBAS ISO 18118:2025
Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Opšte informacije
Status:Projekt
Broj stranica:26
Metoda usvajanja:Korice
Jezik:engleski
Izdanje:3.
Datum realizacije:07.11.2024
Predviđeni datum naredne faze:19.11.2024
Tehnički komitet:BAS/TC 49, Hemijski inžinjering, laboratorijska oprema i kozmetika
ICS:
71.040.40, Hemijska analiza
Apstrakt
This document gives guidance on the measurement and use of experimentally-determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy. The methods described only apply to polycrystalline and amorphous materials, as effects inherent to single-crystal samples are not addressed.
Životni ciklus
...
Izvorni dokument i stepen usklađenosti
ISO 18118:2024, identičan
Veza sa BAS standardima
Radni materijal
Samo članovi tehničkog komiteta imaju pristup radnom materijalu. Ukoliko ste član, molimo prijavite se sa vašim nalogom i dobićete pristup dokumentima. Prijavite se