BAS ISO 4970:1999
Čelik - Određivanje ukupne ili efektivne debljine tankih površinski otvrdnutih slojeva
Opšte informacije
Status: Povučen
Broj strana: 4
Jezik: Engleski
Izdanje: 1.
Metoda usvajanja: Proglašavanje
Datum objave: 23.12.1999
Tehnički komitet:
...
Apstrakt
Ispitivanje metala bez razaranja
Životni ciklus
...
Izvorni dokument i stepen usklađenosti
- ISO 4970:1979, identičan
Veza sa BAS standardima
Napomena
BAS ISO 4970:1999 zamjenjuje JUS C.A2.054:1987, Ispitivanja metala - Određivanje ukupne ili efektivne debljine tankih, površinski otvrdnutih slojeva čelika