prBAS ISO 23729:2025

Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

Opšte informacije

Status:Projekt

Broj stranica:19

Metoda usvajanja:Korice

Jezik:engleski

Izdanje:1.

Datum realizacije:07.11.2024

Predviđeni datum naredne faze:19.11.2024

Tehnički komitet:BAS/TC 49, Hemijski inžinjering, laboratorijska oprema i kozmetika

ICS:

71.040.40, Hemijska analiza

Apstrakt

This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

Životni ciklus

...

Izvorni dokument i stepen usklađenosti

ISO 23729:2022, identičan

Radni materijal

Samo članovi tehničkog komiteta imaju pristup radnom materijalu. Ukoliko ste član, molimo prijavite se sa vašim nalogom i dobićete pristup dokumentima. Prijavite se